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-表面觀察儀器
-掃描電子顯微鏡(SEM)
型號：Scios 2
品牌：FEI
行業：有機化工 冶煉行業 機械鑄造 建材行業 食品制藥 固廢環保 電子電器 電池行業 新興行業 整車行業 大學科研 分析檢測
咨詢電話：4000887086
FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系統，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供二維和三維性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府和工業研究環境中的納米量級研究與分析。
FEI Scios核心技術。透鏡內FEI Trinity能夠同時收集所有信號，既節省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料，能夠：
>執行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
>使用Trinity檢測套件同步檢測材料、形態和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
>借助漂移抑制光刻，無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導電材料進行操作
>生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或對裂紋尖端各個方向的應力和應變進行分析
>搭配EasyLift可快速可靠地制備高質量樣本，而且只需小的電子束能量即可獲得高質量的S/TEM結果
>針對DealBeam常見應用提供“用戶指南”和逐步工作流，使得任何經驗水平的操作員都能即刻上手
生命科學應用
有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應用且不會降低對比度和分辨率的多功能設備。FEI Scios是一款易于使用的儀器，能使您的眾多不同應用和工作流更具靈活性，功能更強大，而且借助高效和增值工作流， Scios能讓您在短時間內獲得準確的結果。